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    離子束研磨系統
    Leica EM TXP 精研一體機

    Leica EM TXP 精研一體機

    發布時間:2019-11-25 瀏覽次數: 徠卡EM TXP 標靶面制備系統具有定點修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術檢測。

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    Leica EM TXP 精研一體機

    徠卡EM TXP 標靶面制備系統具有定點修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術檢測。

    帶有一體化體視鏡,用于精確定位及對較細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察;使用樣品旋轉手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調,或者垂直于樣品前表面90°觀察,可利用目鏡刻度標尺測量距離。


    一體化自動程序控制

    一體化自動程序控制,包括自動左右制動機制,前進反饋力控制,倒計數功能等,為使用者節約大量時間。


    表面光潔度和標靶檢測

    表面處理與目標檢測,都通過一體化體視鏡來完成,用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測,這可大大提高使用者的工作效率。


    適配工具多樣性

    可適配多種多樣工具,從而使樣品不經轉移就可以進行研磨,切割,鉆孔,打磨及拋光。并且整個處理過程都可通過體視鏡進行觀察監控,大大節省時間和費用。


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