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    離子束研磨系統
    Leica EM RES102 多功能離子減薄儀

    Leica EM RES102 多功能離子減薄儀

    發布時間:2019-11-25 瀏覽次數: 使用徠卡 EM RES102多功能離子減薄儀,使您的樣品具備最高水平的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結構。獨特的離子束研磨系統結合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。


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    Leica EM RES102多功能離子減簿儀


    使用徠卡 EM RES102,使您的樣品具備最高水平的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結構。獨特的離子束研磨系統結合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。

    各種樣品架可以進行多元化應用。除了高能量的離子銑工藝,徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。





    高效并節約成本

    ● TEM,SEM和LM應用功能集于一體

    ● SEM樣品制備最大可達25mm樣品直徑

    ● TEM樣品制備獲得的薄區大,有效提高了TEM樣品制備效率

    ● 局域網功能方便遠程操控



    安全

    離子源和樣品運動馬達驅動,程序化控制,因而可獲得重復性制樣結果



    保持樣品原生態

    LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優化條件下進行離子研磨



    操作簡便

    ● 內置應用參數庫  

    ● 幫助文件幫助初學者以及對設備進行維護




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